发明名称 |
抗干扰时间基准以及使用该时间基准的设备 |
摘要 |
公开了一种可用作时间基准的抗干扰基准以及使用该抗干扰基准来确定所经过时间的集成电路。该电路包括基准源(200),该基准源被包含在集成封装中,该基准源包括:放射性材料(210);与放射性材料(210)接触的测量电路(220),该测量电路用于在预定时间段内收集放射性材料(210)所产生的放射线;以及用于与基准(200)进行通信的处理器(110),处理器(110)用于发起由基准(200)进行的测量,并且基于基准(200)的多次测量来确定所经过时间。 |
申请公布号 |
CN101142580A |
申请公布日期 |
2008.03.12 |
申请号 |
CN200680002584.X |
申请日期 |
2006.01.16 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
史蒂芬·德鲁德 |
分类号 |
G06F21/00(2006.01);G04F5/16(2006.01) |
主分类号 |
G06F21/00(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
朱进桂 |
主权项 |
1.一种封装在集成电路(205)中的抗干扰传感器基准(200),该传感器基准包括:放射性材料(210);测量电路(220),与放射性材料(210)相接触,所述测量电路用于在预定时间段内收集放射性材料(210)所产生的放射线;以及从集成电路封装(205)延伸的多个触点(225),用于从测量电路(220)获得信息或者向测量电路(220)提供信息。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |