| 发明名称 | 大量程导电碳膜阻值线性精度检测刻划仪 | ||
| 摘要 | 一种大量程导电碳膜阻值线性精度检测刻划仪，属于电子技术领域，其特征是：单片机的采集输入端接光栅传感器，单片机的输出端接显示器，单片机的输出控制端接步进电机控制修刻机构，修刻的传感器电阻通过A/D转换器接单片机输入端。其有益效果是：量程大、精度高、刻划检测速度快、成品率高。 | ||
| 申请公布号 | CN201034636Y | 申请公布日期 | 2008.03.12 |
| 申请号 | CN200620028822.1 | 申请日期 | 2006.05.26 |
| 申请人 | 长春光机数显技术有限责任公司 | 发明人 | 李英志 |
| 分类号 | G01D18/00(2006.01);G01D5/16(2006.01) | 主分类号 | G01D18/00(2006.01) |
| 代理机构 | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 | 代理人 | 纪尚 |
| 主权项 | 1.一种大量程导电碳膜阻值线性精度检测刻划仪，其特征是：单片机的采集输入端接光栅传感器，单片机的输出端接显示器，单片机的输出控制端接步进电机控制修刻机构，修刻的传感器电阻通过A/D转换器接单片机输入端。 | ||
| 地址 | 130033吉林省长春市经开区营口路19号中科院 | ||