发明名称 | 硬件描述语言电路的检测系统与方法 | ||
摘要 | 一种硬件描述语言电路的检测系统是检测一硬件描述语言所描述的一待测试电路程序,此系统包含一电路模拟软件、一接口程序以及一处理器。其中电路模拟软件执行待测试电路程序以模拟一待测试电路,其中待测试电路程序产生一第一消息,处理器执行电路模拟软件,并产生一第二消息,接口程序由硬件描述语言所描述,并执行于电路模拟软件,其中接口程序传送待测试电路程序所产生的所述第一消息至处理器或传送处理器所产生的所述第二消息至待测试电路程序。 | ||
申请公布号 | CN100375096C | 申请公布日期 | 2008.03.12 |
申请号 | CN200510126028.0 | 申请日期 | 2005.11.24 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 刘云天 |
分类号 | G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G06F17/50(2006.01) |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵蓉民 |
主权项 | 1.一种硬件描述语言电路的检测系统,其检测一硬件描述语言所描述的一待测试电路程序,所述系统包含:一电路模拟软件,其执行所述待测试电路程序以模拟一待测试电路,其中所述待测试电路程序产生一第一消息;一处理器,其执行所述电路模拟软件,其中所述处理器产生一第二消息,当所述第一消息为一中断消息,其中所述处理器依据所述第一消息产生所述第二消息;当所述第二消息为一读取消息,其中所述待测试电路程序依据所述第二消息产生所述第一消息;以及一接口程序,其由所述硬件描述语言所描述,并执行于所述电路模拟软件,传送所述待测试电路程序所产生的第一消息至所述处理器以及传送所述处理器所产生的第二消息至所述待测试电路程序。 | ||
地址 | 台湾台北 |