| 主权项 |
1.一种键盘自动化检测装置,系包含: 一伸缩装置,系具有一轴向伸缩装置且连接一轴向 固定长度之连动杆,连动杆末端具有一横向短杆; 一按压测试元件,系为一轴向长形且末端为一尖形 钝头元件,该按压测试元件中具有一空间,且该按 压测试元件顶面具有一直径大于连动杆小于横向 短杆长度之孔洞,该孔洞沿轴向贯穿至该空间; 该连动杆置入该孔洞至并延伸至该空间内,横向短 杆位于该空间内并承托该按压测试元件。 2.如申请专利范围第1项所述之键盘自动化检测装 置,其中,该轴向伸缩装置可为电磁阀、气压装置 或马达等驱动装置。 3.如申请专利范围第1项所述之键盘自动化检测装 置,其中,该按压测试元件可为一轴向长条方形或 轴向长条圆形。 4.一种键盘自动化检测装置,系包含: 一伸缩装置,系具有一轴向伸缩装置且连接一轴向 固定长度之连动杆,该连动杆具有一横向短杆; 一按压测试元件,系为一轴向长形且末端为一尖形 钝头元件;连动杆两端分别连接伸缩装置及按压测 试元件; 一行程控制元件,系具有一直径大于连动杆小于横 向短杆长度之孔洞之板状元件,该孔洞贯穿该板状 元件,连动杆置入孔洞中,横向短杆位于孔洞上方 并与孔洞具有一行程距离。 5.如申请专利范围第4项所述之键盘自动化检测装 置,其中,该轴向伸缩装置可为电磁阀、气压装置 或马达等驱动装置。 6.如申请专利范围第4项所述之键盘自动化检测装 置,其中,该按压测试元件可为一轴向长条方形或 轴向长条圆形。 7.一种键盘自动化检测系统,系包含有若干键盘自 动化检测装置及双轴向移动平台,其中,该键盘自 动化检测装置,包括有: 一伸缩装置,系具有一轴向伸缩装置且连接一轴向 固定长度之连动杆,连动杆末端具有一横向短杆; 一按压测试元件,系为一轴向长形且末端为一尖形 钝头元件,该按压测试元件中具有一空间,且该按 压测试元件顶面具有一直径大于连动杆小于横向 短杆长度之孔洞,该孔洞沿轴向贯穿至该空间; 该连动杆置入该孔洞至并延伸至该空间内,横向短 杆位于该空间内并承托该按压测试元件, 一双轴向移动平台,置于键盘自动化检测装置之相 对位置,且得以沿水平面X、Y轴向任意移动。 8.如申请专利范围第7项所述之键盘自动化检测系 统,其中,该轴向伸缩装置可为电磁阀、气压装置 或马达等驱动装置。 9.如申请专利范围第7项所述之键盘自动化检测系 统,其中,该按压测试元件可为一轴向长条方形或 轴向长条圆形。 10.一种键盘自动化检测系统,系包含有若干键盘自 动化检测装置及双轴向移动平台,其中,该键盘自 动化检测装置,包括有: 一伸缩装置,系具有一轴向伸缩装置且连接一轴向 固定长度之连动杆,该连动杆具有一横向短杆; 一按压测试元件,系为一轴向长形且末端为一尖形 钝头元件;连动杆两端分别连接伸缩装置及按压测 试元件; 一行程控制元件,系具有一直径大于连动杆小于横 向短杆长度之孔洞之板状元件,该孔洞贯穿该板状 元件,连动杆置入孔洞中,横向短杆位于孔洞上方 与孔洞具有一行程距离, 一双轴向移动平台,置于键盘自动化检测装置之相 对位置,且得以沿水平面X、Y轴向任意移动。 11.如申请专利范围第10项所述之键盘自动化检测 系统,其中,该轴向伸缩装置可为电磁阀、气压装 置或马达等驱动装置。 12.如申请专利范围第10项所述之键盘自动化检测 系统,其中,该按压测试元件可为一轴向长条方形 或轴向长条圆形。 图式简单说明: 第一图系为本键盘自动化检测装置之第一型态结 构图。 第二图系为本键盘自动化检测装置之第二型态结 构图。 第三图系为本键盘自动化检测系统之立体结构图 。 |
