发明名称 泊耳帖元件驱动方法及电路、泊耳帖模组之安装构造以及电子元件处理装置
摘要 使用:脉宽控制装置,控制脉冲信号之脉宽的增减,使泊耳帖元件之温度变化不会超过既定之温度梯度;及切换装置,根据脉宽控制装置所控制之脉宽的脉冲信号,控制供给泊耳帖元件之驱动电流的ON/OFF;限制供给泊耳帖元件之电力的电流变化率。因而,抑制泊耳帖元件各部位的膨胀率、收缩率之激烈的变动,可减少施加于泊耳帖元件之应力,因而在泊耳帖元件可保持寿命长。
申请公布号 TWI294701 申请公布日期 2008.03.11
申请号 TW094145548 申请日期 2005.12.21
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 发明人 桥本隆志
分类号 H01L35/28(2006.01);F25B21/02(2006.01) 主分类号 H01L35/28(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路4段279号3楼
主权项 1.一种泊耳帖元件之驱动方法,其特征在于: 控制供给泊耳帖元件之驱动电流的ON/OFF而以脉冲 供给; 控制该驱动电流之脉宽的增减,使该泊耳帖元件之 温度变化不会超过既定之温度梯度。 2.如申请专利范围第1项之泊耳帖元件之驱动方法, 其中,每隔既定之周期控制该脉冲的周期时间,使 比该泊耳帖元件之热时间常数短。 3.如申请专利范围第1项之泊耳帖元件之驱动方法, 其中,根据既定之控制信号控制该驱动电流的脉宽 。 4.一种泊耳帖元件的驱动电路,其特征在于包括: 脉宽控制装置,控制该脉冲信号之脉宽的增减,使 泊耳帖元件之温度变化不会超过既定之温度梯度; 及 切换装置,根据该脉宽控制装置所控制之脉宽的脉 冲信号,控制供给泊耳帖元件之驱动电流的ON/OFF。 5.如申请专利范围第4项之泊耳帖元件之驱动电路, 其中,该脉宽控制装置每隔既定之周期控制该脉冲 信号的周期时间,使比该泊耳帖元件之热时间常数 短。 6.如申请专利范围第4项之泊耳帖元件之驱动电路, 其中,根据来自外部的控制信号控制该脉冲信号的 脉宽。 7.如申请专利范围第4项之泊耳帖元件之驱动电路, 其中,又包括检测泊耳帖元件之被冷却/加热物的 温度之温度检测手段,根据来自该温度检测手段之 温度信号,控制该泊耳帖元件,使该被冷却/加热物 的温度变成既定之温度。 8.如申请专利范围第7项之泊耳帖元件的驱动电路, 其中,该被冷却/加热物系成为电气测试之对象的 被测试电子元件; 该温度检测手段系该被测试电子元件本身包括者 。 9.一种泊耳帖模组之安装构造,系泊耳帖模组对被 冷却/加热物之安装构造, 其特征在于: 该泊耳帖模组系包括位于被冷却/加热物侧之第一 基板、和该第一基板相向之第二基板、以及被夹 在该等基板之间的热电元件; 藉由和该第一基板的端部卡合的卡合构件固定于 该被冷却/加热物,将该泊耳帖模组安装于该被冷 却/加热物。 10.一种泊耳帖模组之安装构造,系泊耳帖模组对被 冷却/加热物之安装构造, 其特征在于: 该泊耳帖模组系包括位于被冷却/加热物侧之第一 基板、和该第一基板相向之第二基板、以及被夹 在该等基板之间的热电元件; 在该第二基板设置外部温度控制装置,藉由该外部 温度控制装置利用固定构件在被向该泊耳帖模组 侧偏压下被安装于该被冷却/加热物,将该泊耳帖 模组安装于该被冷却/加热物。 11.如申请专利范围第9或10项之泊耳帖模组的安装 构造,其中,该被冷却/加热物系为了测试电子元件 而可将被测试电子元件压在测试头之接触部的推 杆; 将该泊耳帖模组安装于该推杆。 12.如申请专利范围第11项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该泊耳帖模组包括可构成冷却面的基板 和可构成散热面的基板,为了使该冷却面接触该推 杆,而将该泊耳帖模组安装于该推杆。 13.如申请专利范围第12项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该泊耳帖模组藉由将可构成冷却面的基 板固定于该推杆而安装于该推杆。 14.如申请专利范围第12项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该泊耳帖模组以被该推杆推压之状态安 装于该推杆。 15.如申请专利范围第12项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,在该泊耳帖模组之散热面,设置可促进来 自该散热面之散热的散热手段。 16.如申请专利范围第15项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该散热手段系经由调温媒体可使从该泊 耳帖模组之散热面散热的泊耳帖模组散热装置。 17.如申请专利范围第16项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该泊耳帖模组散热装置包括将调温媒体 引入该泊耳帖模组的散热面之调温媒体供给部。 18.如申请专利范围第11项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该推杆在将被测试电子元件压在测试头 之接触部的方向及与该测试头之接触部分开的方 向可移动。 19.如申请专利范围第11项之泊耳帖模组的安装构 造,其中,该推杆包括将该推杆朝向在测试头之接 触部所设置之插座导件引导定位的导销。 20.一种电子元件处理装置,将被测试电子元件之电 气端子压在测试头之接触部而使以电气式接触,其 特征在于:包括利用申请专利范围第9或10项之泊耳 帖模组的安装构造安装泊耳帖模组的推杆。 21.如申请专利范围第20项之电子元件处理装置,其 中,在安装于该推杆之泊耳帖模组,连接申请专利 范围第4项之驱动电路。 图式简单说明: 第1图系本发明之一实施形态的泊耳帖元件驱动电 路之构造图。 第2图系表示对利用该实施形态之泊耳帖元件驱动 电路施加的脉冲电压之泊耳帖元件的温度变迁的 图形。 第3图系包含本发明之一实施形态的处理器之IC元 件测试装置的整体侧视图。 第4图系该实施形态之处理器的立体图。 第5图系该实施形态之处理器的测试室内的主要部 分剖面图。 第6图系表示在该实施形态之处理器的插座附近之 构造的分解立体图。 第7图系本发明之一实施形态的推杆之侧视图。 第8图系本发明之其他的实施形态之推杆的侧视图 。
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