首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
align measuring method of photo-lithography fabrication
摘要
申请公布号
KR100809955(B1)
申请公布日期
2008.03.06
申请号
KR20010074098
申请日期
2001.11.27
申请人
发明人
分类号
H01L21/027;G03F7/20
主分类号
H01L21/027
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
Vorrichtung zur Datenfernübertragung zwischen einem Datenträger und einer Zentrale
Siebvorrichtung
Flachbildschirm
Verfahren zum Bearbeiten von Werkstücken mit Laserstrahlung, insbesondere zum Laserstrahlschweißen
Viskoheizung der Art mit einer variablen Kapazität
IN VITRO ASSAY FOR IDENTIFICATION OF CARCINOGENS
METHOD FOR DETECTING A TARGET COMPOUND USING A NUCLEIC ACID LIGAND
A MUTANT FORM OF A CYTOTOXIC RIBONUCLEOLYTIC PROTEIN WHICH ALLOWS PRODUCTION BY RECOMBINANT METHODS
REDUCTION OF NOx EMISSIONS FROM ROTARY CEMENT KILNS BY SELECTIVE NONCATALYTIC REDUCTION
Abgasklappe
METHOD AND DATA SYSTEM FOR DETERMINATION OF FINANCIAL INSTRUMENTS FOR THE USE OF FUNDING OF A LOAN WHICH IS AT LEAST PARTIALLY REFINANCED DURING ITS TERM TO MATURITY
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der absoluten Plasmaparameter
METHOD AND ARRANGEMENT FOR RECONSTRUCTION OF A RECEIVED SPEECH SIGNAL
Rahmen für Kraftfahrzeug
Baugruppe zum Laden einer Rakelklinge
Einstellung der Viskosität von geschmolzenem Quarz
Verbesserungen bezüglich Sicherheitsdeckeln von Tür- oder Fensteröffnungen
Bogen-Wendeeinrichtung für Bogenrotationsdruckmaschinen
Verfahren zur Alkylierung von aliphatischen Kohlenwasserstoffen
Kochgefäss, insbesondere ein Kessel, mit einer integrierten Heizplatte
