Automatischer mit Geschwindigkeit ablaufender Test auf Fehler von Logikblöcken unter Verwendung von BIST-Logikschaltungen,申请号DE200560003302T-传众专利搜索

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发明名称	Automatischer mit Geschwindigkeit ablaufender Test auf Fehler von Logikblöcken unter Verwendung von BIST-Logikschaltungen
摘要
申请公布号	DE602005003302(T2)	申请公布日期	2008.03.06
申请号	DE200560003302T	申请日期	2005.09.21
申请人	GENESIS MICROCHIP INC.	发明人	MUSHIRABAD, VENKAT CHARY;SHETTIGARA, RAJANATHA
分类号	G01R31/3185;G01R31/3187	主分类号	G01R31/3185
代理机构		代理人
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