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发明名称 IC-Chip-Baustein, Testeinrichtung und Schnittstelle zum Ausführen eines Funktionstests eines in dem Chip-Baustein enthaltenen Chips
摘要
申请公布号 DE112005003538(T5) 申请公布日期 2008.03.06
申请号 DE200511003538T 申请日期 2005.04.15
申请人 QIMONDA AG 发明人 GNAT, MARCIN;SCHNEIDER, RALF;VOLLRATH, JOERG
分类号 G01R31/3185;G01R31/319 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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