发明名称 |
陶瓷双列封装器件高加速离心试验夹具 |
摘要 |
本发明公开了一种陶瓷双列封装器件高加速离心试验夹具,用于对陶瓷双列封装(DIP)器件进行高加速度(≥5000g)离心试验。该夹具包括有母夹具、装放待试验器件的子夹具和锁紧子夹具及固定器件的锁紧压板,母夹具内设计有与子夹具呈抽屉式配装的通槽,其左右侧壁上设计有螺钉式紧锁装置。本发明采用了一种新的“子母夹具组合型”思维方式,避免了器件在进行高加速离心试验时由于夹具的受力不均而造成的器件变形或断裂问题,提高了离心试验成功率和生产效率,可适用于各种跨度的DIP器件。 |
申请公布号 |
CN101135636A |
申请公布日期 |
2008.03.05 |
申请号 |
CN200710092643.3 |
申请日期 |
2007.08.31 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
发明人 |
胡波;蒋殷贵;张锋 |
分类号 |
G01N19/04(2006.01);B04B15/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N19/04(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种陶瓷双列封装器件高加速离心试验夹具,其特征在于:包括有母夹具(1)、装放待试验器件的子夹具(2)和锁紧子夹具(2)及固定器件的锁紧压板(4),母夹具(1)内设计有与子夹具(2)呈抽屉式配装的通槽(1A),其左右侧壁上设计有螺钉式紧锁装置。 |
地址 |
400060重庆市南岸区南坪花园路14号 |