发明名称 A METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION
摘要
申请公布号 KR100808716(B1) 申请公布日期 2008.03.03
申请号 KR20007014727 申请日期 2000.12.23
申请人 发明人
分类号 G01N21/88 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
地址