发明名称 | 利用增强型高电子迁移率电晶体/金属半导体场效电晶体之晶片内静电放电防护电路 | ||
摘要 | 本发明系一种晶片内静电放电(ESD)防护电路,利用增强型(enhancement mode)高电子迁移率电晶体(HEMT)/金属半导体场效电晶体(MESFET)分流人体放电等高压突波,供以保护晶片内电子元件不受该高压突波之破坏;比之传统静电放电防护电路串联大量二极体提供高压保护,该防护电路使用增强型(enhancement mode)高电子迁移率电晶体(HEMT)/金属半导体场效电晶体(MESFET)分流高压突波,只需串联少量二极体以触发分流,使得该装置大小变小且适用于以高电子迁移率电晶体(HEMT)/金属半导体场效电晶体(MESFET)为主之晶片内设计,不需改变原先电路基板之制程。 | ||
申请公布号 | TW200812059 | 申请公布日期 | 2008.03.01 |
申请号 | TW095131035 | 申请日期 | 2006.08.23 |
申请人 | 稳懋半导体股份有限公司 | 发明人 | 林正国;王郁琦;刘世明;孙晓萍 |
分类号 | H01L27/04(2006.01) | 主分类号 | H01L27/04(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 潘海涛;袁铁生 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区科技七路69号 |