射控系统之测试装置与方法

摘要

一种射控系统测试装置与方法，适用于检验武器发射控制器之功能，缩短备战时间，提升武器射控装备妥善率。当射控系统功能异常时，能够迅速侦检并纪录系统失效之原因，藉以指导操控维修人员迅速排除故障。其测试装备包括：测试系统与其操控台、资料库伺服器。其中测试系统操控台藉由快速串列资讯传输汇流道与射控发射器相连接，用以侦测射控发射器与武器系统之功能；资料库伺服器，用以储存测试程式、测试结果记录以及相关统计资讯。其测试方法为首先自射控器测试系统操控台启动快速串列式通讯汇流道选择测试模式，然后选择硬体测试模式并开始执行，由测试系统操控台输入待测硬体项目与规格，列出预期测试结果作为研判标准，由测试系统操控台控制待测硬体之输入与输出介面，供应预先规划之输入讯号，并量测输出讯号，撷取并纪录输出讯号，研判并纪录测试结果。然后检查是否尚有未测项目。如果尚有未测项目，则继续执行待测项目之测试工作，否则表示已完成所有待测试项目，将完整之量测结果存入资料库，并显示于测试系统操控台。如遇功能异常现像，立即纪录故障现像，即时通知并指导系统维修人员进行必要之维护措施。

主权项

1.一种射控系统的测试装置,包括: 一资料传输模组,耦接一资料链传输天线,用以透 过该资料链传输天线而从一战情指挥中心接收一 战情任务资讯; 一测试系统操控台,耦接该资料传输模组,用以进 行资料的运算和处理,并提供该测试装置和一操作 人员之间的介面,以使该操作人员能藉由该测试系 统操控台下达一控制指令,以对该射控系统进行测 试; 一操控人员介面单元,耦接该测试系统操控台; 一数位处理单元,耦接一全球定位系统(GPS)天线与 整合式定向定位仪,当该射控系统获致一目标物之 方位与姿态角资讯时,则数位处理单元经由整合式 定向定位仪,将役使发射架之方位与姿态角朝向目 标,且该数位处理单元会透过该操控人员校准发射 架之方位与姿态角;以及 一射控系统介面单元,耦接该处理单元和该射控系 统,其中该处理单元会依据该控制指令,而选择操 作和对该射控系统进行测试二者其中之一。 2.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该资料传输模组包括: 一第一耦合器,耦接该测试系统操控台,用以将该 任务资讯传送给该测试系统操控台,以及接收该操 作人员藉由该测试系统操控台所输入的资讯; 一第一串列资讯传输介面,耦接该第一耦合器,为 双向传输的介面; 一资料链控制处理器,耦接该串列资讯传输介面, 用以控制资料的方向;以及 一资料链发射器,耦接该资料链控制处理器和该天 线模组,用以接收透过该天线模组接收该任务资讯 ,或将该操作人员藉由该测试系统操控台所输入的 资讯透过该天线模组而送至该战情中心。 3.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该操控人员介面单元包括: 一第二耦合器,耦接该测试系统操控台,用以接收 该控制命令;以及 一第二串列资讯传输介面,耦接该第二耦合器和该 处理单元,用以将该目标资料透过该第二耦合器送 至该测试系统操控台,以及将该控制命令送至该处 理单元二者其中之一。 4.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该处理单元包括: 一数位处理模组,耦接该操控人员介面单元,用以 处理该目标资料和该控制指令; 一整合式定位定向仪,耦接该全球定位系统天线和 该数位处理器,用以提供发射架精准之方位与姿态 角,以使得该射控系统内的发射架的方位与姿态角 能朝向目标物的方位与姿态角; 一记忆体,耦接该数位处理器;以及 一定时监视计时器,耦接该数位处理器,当系统停 止动作超过一预设时间时,则发出一唤醒讯号至该 数位处理器以唤醒系统。 5.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该测试系统操控台为一个人电脑。 6.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该测试系统操控台更耦接一资料库,其内 部储存有该射控系统之操作流程,并且储存用来测 试该射控系统的一测试程式、多数个测试参数、 该射控系统的测试结果和相关统计资讯。 7.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该射控系统介面单元包括: 一发射架射塔驱动介面,耦接该处理单元和该射控 系统内之一马达伺服器,其中该处理单元系依据该 控制指令而选择对该马达伺服器进行测试,以及使 马达伺服器依据该目标资料而调整一发射架的方 向二者其中之一;以及 一发射介面单元,耦接该处理单元和该发射架,其 中该处理单元系依据该控制指令,而选择对该发射 架进行测试,以及依据该目标资料而控制该发射架 朝向该目标物发射一飞行物二者其中之一。 8.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,其中该测试系统操控台系透过一快速串列式传 输滙流排而耦接至该操控人员介面单元和该资料 传输模组。 9.如申请专利范围第1项所述之射控系统的测试装 置,更包括一测试用输入输出模组,用以连接该测 试装置与该射控系统。 10.一种射控系统的测试方法,包括下列步骤: 依据该射控系统的需求而输入适当的指令以启动 一测试模式; 执行一射控系统测试程序; 输入该射控系统之一待测硬体项目与输出规格,以 做为研判标准; 量测该待测硬体之输入端和输出端的连接或断开 状态; 当该待测硬体之输入端和输出端的连接或断开状 态正常时,则输入一组测试讯号(test pattern)至该待 测硬体,并量测该待测硬体的输出;以及 撷取并记录该待测硬体的输出。 11.如申请专利范围第10项所述之射控系统的测试 方法,其中当该待测硬体的输入和输出状态异常时 ,则显示一失效讯息给一操控人员注意。 12.如申请专利范围第10项所述之射控系统的测试 方法,更包括下列步骤: 判断该射控系统内是否有未测试的硬体; 当该射控系统内还有未测试的硬体时,则重复要求 输入待测硬体项目的步骤; 当该射控系统内所有的硬体都测试完毕时,则将完 整的测试结果存入一测试资料库;以及 显示完整的测试结果给一操控人员。 图式简单说明: 图1绘示了依照本发明之一较佳实施例的一种射控 系统的测试装置之架构方块图。 图2绘示了依照本发明之一较佳实施例的一种射控 系统之测试方法的步骤流程图。