发明名称 | 将欲利用光学量测方式检查之结构予以特征化之轮廓模型的评估 | ||
摘要 | 藉由显示将轮廓模型予以特征化的轮廓参数组,而评估将欲利用光学量测方式检查之结构予以特征化的轮廓模型。每一轮廓参数具有其一数值范围。对于具有一数值范围的每一轮廓参数,显示用以在此数值范围内选择轮廓参数之数值的调整工具。使用光学量测工具量测的量测绕射信号被显示。根据轮廓参数值所产生的模拟绕射信号被显示,其中此轮廓参数值系使用轮廓参数用的调整工具而选择。将模拟绕射信号与量测的绕射信号重叠。 | ||
申请公布号 | TW200811413 | 申请公布日期 | 2008.03.01 |
申请号 | TW096125015 | 申请日期 | 2007.07.10 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 杰弗瑞A 查德;鲍君威;闻友贤;山杰 易达 |
分类号 | G01B11/00(2006.01) | 主分类号 | G01B11/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |