发明名称 将欲利用光学量测方式检查之结构予以特征化之轮廓模型的评估
摘要 藉由显示将轮廓模型予以特征化的轮廓参数组,而评估将欲利用光学量测方式检查之结构予以特征化的轮廓模型。每一轮廓参数具有其一数值范围。对于具有一数值范围的每一轮廓参数,显示用以在此数值范围内选择轮廓参数之数值的调整工具。使用光学量测工具量测的量测绕射信号被显示。根据轮廓参数值所产生的模拟绕射信号被显示,其中此轮廓参数值系使用轮廓参数用的调整工具而选择。将模拟绕射信号与量测的绕射信号重叠。
申请公布号 TW200811413 申请公布日期 2008.03.01
申请号 TW096125015 申请日期 2007.07.10
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 杰弗瑞A 查德;鲍君威;闻友贤;山杰 易达
分类号 G01B11/00(2006.01) 主分类号 G01B11/00(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本