| 发明名称 | 半导体器件测试图形库的生成方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种半导体器件图形测试库的生成方法，旨在消除由于半导体器件参数尺寸值的变化而引起的重复劳动，缩短测试图形库的设计周期。该方法包括以下步骤：使用计算机编程语言对点进行描述，以实现点在二维坐标系中的x坐标值和y坐标值的存储；使用计算机编程语言对多边形进行描述，以实现多边形由多个点确定；使用计算机编程语言对半导体基本单元的图形进行描述，以实现半导体器件由多个多边形组成；将上述描述应用到具体的半导体器件的测试图形中，构造出半导体器件的测试图形库。 | ||
| 申请公布号 | CN101131634A | 申请公布日期 | 2008.02.27 |
| 申请号 | CN200610030310.3 | 申请日期 | 2006.08.23 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 金锋;张兴洲;常欣 |
| 分类号 | G06F9/44(2006.01);G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G06F9/44(2006.01) |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 顾继光 |
| 主权项 | 1.一种半导体器件图形测试库的生成方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)使用计算机编程语言对点进行描述，以实现点在二维坐标系中的x坐标值和y坐标值的存储；(2)使用计算机编程语言对多边形进行描述，以实现多边形由多个点确定；(3)使用计算机编程语言对半导体基本单元的图形进行描述，以实现半导体器件由多个多边形组成；(4)将上述描述应用到具体的半导体器件的测试图形中，包括以下步骤：a、选取某一点为原点，建立二维平面坐标系；b、确定某一半导体器件测试图形中各点的坐标；c、对半导体器件进行描述，其中至少定义有该半导体器件所包括的各多边形和特征参数；d、构造出半导体器件的测试图形库。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||