发明名称 浮法硅晶片的制作工艺和设备
摘要 一种浮法硅晶片的制作工艺,采取融熔、结晶成型、打磨切割连续工艺制取。将硅原料通过加料装置(1)加入到坩锅(2)中,坩锅内的温度设在高于硅熔点1421℃以上,固态的硅原料在1421℃以上熔化成液态硅,液态硅上方经加料口连续排除氩气或其他惰性气体,结晶区料槽(4)与坩锅排液口(3)相连通,槽内充满液态的锡金属或其他熔点低于硅熔点的合金为载体,靠近出料口温度高于硅的熔点1421℃,另一端的温度介于1421℃到400℃,当液态硅移至浮法成型区末端(4)时,液态硅会凝固成固态,结晶区上层相对靠近坩锅排液口(3)设置挡板(5)调节控制晶片的厚度,成型结晶硅片经冷却段(6)冷却、打磨抛光段(7)后,根据需要在切割晶片区(8)切割晶片。适用于浮法制取太阳能电池和半导体硅晶片。
申请公布号 CN101133194A 申请公布日期 2008.02.27
申请号 CN200680001905.4 申请日期 2006.02.16
申请人 靳永钢 发明人 靳永钢
分类号 C30B29/06(2006.01);C30B35/00(2006.01) 主分类号 C30B29/06(2006.01)
代理机构 山西太原科卫专利事务所 代理人 温彪飞
主权项 1.一种浮法硅晶片的制作工艺,其特征是采取融熔、结晶成型、打磨切割连续工艺制取:A:融熔硅原料,将硅原料通过加料装置(1)加入到坩锅(2)中,坩锅内的温度设在高于硅熔点1421℃以上,固态的硅原料在1421℃以上熔化成液态硅,液态硅上方经加料口连续排除氩气或其他惰性气体;B:结晶成型,结晶区料槽(4)与坩锅排液口(3)相连通,槽内充满液态的锡金属或其他熔点低于硅熔点的合金为载体,靠近出料口温度高于硅的熔点1421℃,另一端的温度介于1421℃到400℃,当液态硅移至浮法成型区末端(4)时,液态硅会凝固成固态,结晶区相应硅表面上层相对靠近坩锅排液口(3)设置的挡板(5)调节控制晶片的厚度;C:成型结晶硅片经冷却段(6)冷却、打磨抛光段(7)后,根据需要在切割晶片区(8)切割晶片。
地址 030006山西省太原市南外环街国际大都会北际花园E2楼B单元301室
您可能感兴趣的专利