发明名称 在光谱测定法中使用改进的变迹函数进行信号处理的方法和装置
摘要 揭示了将改进的变迹函数用于信号光谱测定法的方法和装置。这种方法和装置涉及:(i)获取样品和参考时域波形;(ii)将样品和参考变迹波形应用于上述样品和参考时域波形,使得大致相同的权重被加到上述样品和参考时域波形的相应的大致共同延伸的区域;(iii)将上述样品和参考变迹波形从时域变化到频域;以及(iv)从变换后的样品和参考频谱的比例中产生出用于信号分析的参考谱分析波形,该谱分析波形基本上不包括与变迹后的样品和参考时域波形中相应的大致共同延伸的区域相关联的频率。
申请公布号 CN101133316A 申请公布日期 2008.02.27
申请号 CN200680006938.8 申请日期 2006.03.03
申请人 MKS仪器股份有限公司 发明人 S·博什-卡普内亚;B·J·玛什科-古茨;L·I·卡姆雷特;J·E·内拉;D·F·玛瑞安
分类号 G01N21/35(2006.01);G01J3/45(2006.01);G01N21/27(2006.01) 主分类号 G01N21/35(2006.01)
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 陈炜
主权项 1.一种用在光谱测定法中的信号处理方法,包括:获取样品信号的样品时域波形以及参考信号的参考时域波形;提供应用于所述样品时域波形的样品变迹波形以及应用于所述参考时域波形的参考变迹波形,每个变迹波形都包括第一段和第二段,所述样品变迹波形的第一段与所述参考变迹波形的第一段都基本上在长度方向上共同延伸并且具有基本上相同的权重分布,所述样品和参考变迹波形的第二段都具有衰减的权重分布;将所述样品和参考变迹波形应用于所述样品和参考时域波形,所述变迹波形的第一段将基本上相同的权重应用于所述样品和参考时域波形中相应的基本上共同延伸的区域,从而产生变迹后的样品和参考时域波形;将所述变迹后的样品和参考时域波形变换成相应的样品和参考频域谱波形;以及产生作为样品谱波形与参考谱波形之比值的参考谱分析波形,所述谱分析波形基本上不包括与变迹后的样品和参考时域波形中相应的共同延伸区域相关联的那些频率。
地址 美国马萨诸塞州