发明名称 |
电子电路和用于测试的方法 |
摘要 |
一种可在正常运行模式与测试模式之间进行切换的集成电路。功能电路和测试图变换器都被耦合在该集成电路的输入触点、输出触点和可重新定义的触点之间。在测试模式下,测试图变换器分别驱动输出触点以及取决于电路配置而驱动该可重新定义的触点。测试图变换器被安排成提供在输入触点与输出触点处的信号之间的第一与第二关系,使可重新定义的触点取决于电路配置而分别被用作为输入触点与输出触点。所述关系被选择以使得允许借助分别被用作为输入和输出触点的可重新定义的触点来测试固定错误和交叉连接错误。 |
申请公布号 |
CN100371727C |
申请公布日期 |
2008.02.27 |
申请号 |
CN02815900.4 |
申请日期 |
2002.07.09 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
A·S·比温加;L·M·A·范德洛特;F·G·M·德荣格;G·E·A·洛斯伯格 |
分类号 |
G01R31/3185(2006.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/3185(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
1.一种在正常运行模式与测试模式之间可切换的集成电路,该集成电路具有输入触点、输出触点、和可重新定义的触点,该可重新定义的触点具有根据电路配置而被选择的输入或输出功能,该电路包括:-功能电路和测试图变换器,二者都被耦合在该输入触点、输出触点和可重新定义的触点之间;该功能电路和测试图变换器分别在正常运行模式和测试模式下驱动输出触点,以及取决于电路配置而驱动可重新定义的触点,该测试图变换器被安排成提供在输入触点与输出触点处的信号之间的第一和第二输入/输出关系,使可重新定义的触点取决于电路配置而分别被用作为输入触点或输出触点,所述输入/输出关系被选择以使得允许通过分别被用作为所述第一和第二输入/输出关系中的输入和输出触点的可重新定义的触点来测试固定错误和交叉连接错误。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |