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发明名称 TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 EP1754075(B1) 申请公布日期 2008.02.27
申请号 EP20050752747 申请日期 2005.05.24
申请人 SIEMENS VDO AUTOMOTIVE AG 发明人 BUCHNER, REINHARD;EBNER, CHRISTIAN;MOSEL, STEFAN;RAUSCHER, PETER;VOIGTLAENDER, ARNDT
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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