发明名称 一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪
摘要 本发明所述的一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪,包括X射线出射窗口、安全光闸机构、X射线管、干扰光阻断结构、探测器、薄样品插槽。其中X射线出射窗口与X射线光束同轴,薄样品插槽设于X射线出射窗口与X射线管之间,干扰光阻断结构设于X射线管与探测器之间,安全光闸机构设于X射线管以及探测器与X射线出射窗口之间。本发明所述一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪的优点在于:它有效的结合了薄、厚样技术检测仪的长处,既能满足一般工矿单位对样品进行简单方便快捷的测量,又可以得到更高精度的测量结果,满足实验研究的需要。
申请公布号 CN101131369A 申请公布日期 2008.02.27
申请号 CN200610111338.X 申请日期 2006.08.23
申请人 北京普析通用仪器有限责任公司 发明人 田宇纮
分类号 G01N23/083(2006.01) 主分类号 G01N23/083(2006.01)
代理机构 北京市合德专利事务所 代理人 李本源
主权项 1.一种薄样和厚样兼容测量的X射线能谱仪,其特征在于包括X射线出射窗口、安全光闸机构、X射线管、干扰光阻断结构、探测器、薄样品插槽。其中X射线出射窗口与X射线光束同轴,薄样品插槽设于X射线出射窗口与X射线管之间,干扰光阻断结构设于X射线管与探测器之间,安全光闸机构设于X射线管以及探测器与X射线出射窗口之间。
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