发明名称 一种磁致伸缩导波无损检测方法
摘要 本发明属于无损检测技术领域,具体为一种磁致伸缩导波无损检测方法。本发明通过确定的数据长度和数据起始点,分别在无缺陷标样信号和实际检测信号中提取一组信号作为基准信号和检测信号。方法一将检测信号与基准信号进行差分得到一组信号,通过判断信号是否畸变确定缺陷,根据缺陷处信号的峰峰值与构件截面积损失的线性关系,利用信号的峰峰值确定被测构件截面积的损失量。方法二将检测信号的平方与基准信号的平方进行差分得到一组信号,通过判断信号是否畸变确定缺陷。由于采用上述的信号处理方法,将信号中原来不可分辨的小缺陷信号处理成可轻易分辨出缺陷的信号,从而实现了原本无法检测的小缺陷检测,提高了检测的精度。
申请公布号 CN101126743A 申请公布日期 2008.02.20
申请号 CN200710053208.X 申请日期 2007.09.13
申请人 华中科技大学 发明人 武新军;徐江;王良云;康宜华
分类号 G01N29/14(2006.01) 主分类号 G01N29/14(2006.01)
代理机构 华中科技大学专利中心 代理人 曹葆青
主权项 1.一种磁致伸缩导波无损检测方法,其步骤包括:(1)将磁致伸缩导波传感器激励单元和接收单元分别安装在无缺陷标样构件上,采集接收单元的感应电信号,采集持续时间为T0,获取一组无缺陷标样的测量信号X0,其中T0的取值由构件长度和检测范围决定;(2)取测量信号X0中导波第一次通过接收单元感应信号的极大值或极小值作为数据的起始点,截取时间长度为T1的数据作为基准信号X1,其中,截取时间长度T1=2D/V,V为导波在构件中的传播速度,D为接收单元与无缺陷标样构件端部的距离;(3)将上述磁致伸缩导波传感器激励单元和接收单元分别安装在被测构件上,并使接收单元与被测构件端部的距离为D,再发送激励信号至激励单元中,采集接收单元的感应电信号,采集时间为T0,获取一组被测构件的测量信号X2;(4)在测量信号X2中导波第一次通过接收单元感应信号的极大值或极小值作为数据的起始点,截取时间长度为T1的数据作为一组检测信号X3;(5)采用下述方式之一对检测信号X3进行处理:a.将信号X3和X1对应相减得到信号X4,如果信号X4中存在畸变,则构件上该数据点对应的位置存在缺陷;b.将信号X3和X1中的值分别平方后再对应相减得到信号X5,如果信号X5中存在畸变,则构件上该数据点对应的位置存在缺陷。
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