| 发明名称 | 多传感器畸变映射方法和系统 | ||
| 摘要 | 多传感器畸变映射方法和系统。一方面，电磁传感器(26)的阵列(24)位于感兴趣的体积(12)内。在存在电磁场的情形下，电磁传感器(26)的阵列(24)被采样，以获取代表在阵列(24)中的电磁传感器(26)的位置的信号。根据获取的信号确定在感兴趣的体积(12)内的电磁场畸变。另一方面，用于检测电磁场畸变的系统(10)包括：位于感兴趣的体积(12)内的电磁传感器组件(24)；多个电磁传感器(16)，用于发射或接收代表该传感器阵列(24)中的电磁传感器(26)的位置的信号；以及跟踪器(18)。再一方面，用于检测电磁场畸变的电磁传感器组件(14)包括本体(22)、和位于本体(22)上的电磁传感器(26)的阵列(24)。 | ||
| 申请公布号 | CN101125082A | 申请公布日期 | 2008.02.20 |
| 申请号 | CN200710140954.2 | 申请日期 | 2007.08.15 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | V·T·詹森 |
| 分类号 | A61B5/06(2006.01) | 主分类号 | A61B5/06(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 程天正;王忠忠 |
| 主权项 | 1.一种用于确定电磁场畸变的方法，包括：把电磁传感器(26)的阵列(24)放置在感兴趣的体积(12)中；在存在电磁场的情形下，对电磁传感器(26)的阵列(24)采样，以获取表示阵列(24)中的电磁传感器(26)的各个位置的信号；以及根据获取的信号确定在感兴趣的体积内的电磁场畸变。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||