发明名称 |
一种超导线圈失超检测方法 |
摘要 |
一种超导线圈失超检测方法,其特征在于实时监测超导线圈绕组的温度,把时间上前后相邻的温度的差值除以温度监测时间间隔,得到失超检测量——温升速率,把温升速率与温升速率阈值进行比较,一旦超过温升速率阈值,即可判断线圈失超。温升速率阈值的确定方法是同时监测超导线圈失超过程中失超点附近的电压和温度,并把温度转化为温升速率,当电压升高到1μV/cm时,线圈失超,此刻失超点两侧的温升速率的平均值即为温升速率阈值。本发明更接近物理现象的本质,检测速度快、灵敏度高,适用于低温超导(NbTi、Nb<SUB>3</SUB>Sn、MgB<SUB>2</SUB>)线圈和高温超导(Bi2223、YBCO)线圈。 |
申请公布号 |
CN101126787A |
申请公布日期 |
2008.02.20 |
申请号 |
CN200710175335.7 |
申请日期 |
2007.09.28 |
申请人 |
中国科学院电工研究所 |
发明人 |
张正臣;李晓航 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01);G01K7/18(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01) |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 |
代理人 |
关玲;成金玉 |
主权项 |
1.一种超导线圈失超检测方法,其特征在于实时监测超导线圈绕组的温度,把时间上前后相邻的温度的差值除以温度监测时间间隔,得到失超检测量——温升速率,温升速率υt=ΔT/δt;把温升速率与温升速率阈值进行比较,一旦超过阈值,即可确定超导线圈失超。 |
地址 |
100080北京市海淀区中关村北二条6号 |