| 发明名称 | 热阻测试设备的校验装置 | ||
| 摘要 | 实用新型揭示一种热阻测试设备的校验装置，该装置包括：一导热底板；一标准热阻块，设于上述导热底板上，该标准热阻块底面设有一第一探头容置槽，该标准热阻块于底面相对一面设有一第二探头容置槽，该第一、第二探头容置槽内分别设有一第一、第二温度探头；一散热器，设于上述标准热阻块上；一风扇，设于上述散热器上，该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线；控制器，其上设有一第一探头连接部、一第二探头连接部、一第三探头连接部、一第三温度探头，该第一、第二、第三探头连接部分别与第一、第二、第三温度探头连接。利用该热阻测试设备的校验装置可以实现对热阻测试设备的校验。 | ||
| 申请公布号 | CN201025478Y | 申请公布日期 | 2008.02.20 |
| 申请号 | CN200720035723.0 | 申请日期 | 2007.03.27 |
| 申请人 | 汉达精密电子(昆山)有限公司 | 发明人 | 江大阳 |
| 分类号 | G01N25/20(2006.01);G01N25/18(2006.01) | 主分类号 | G01N25/20(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.一种热阻测试设备的校验装置，该装置可以用于对热阻测试设备的校验，其特征在于，该装置包括：一导热底板；一标准热阻块，设于上述导热底板上；一散热器，设于上述标准热阻块上；一风扇，设于上述散热器上，该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线；一控制器，其上设有一第一探头连接部、一第二探头连接部、一第三探头连接部、一第三温度探头。 | ||
| 地址 | 215300江苏省昆山市出口加工区 | ||