发明名称 制造厚导线结构之双镶嵌制程
摘要 一种方法及半导体装置,在本方法中,至少有一部分介层被蚀刻于一堆叠结构中,且一边界被形成约至少一部分介层,该方法更包含当继续介层蚀刻到至少一蚀刻停止层,使用选择性蚀刻制造厚导线。
申请公布号 TW200809923 申请公布日期 2008.02.16
申请号 TW096101395 申请日期 2007.01.15
申请人 万国商业机器公司 发明人 道格拉斯D. 酷宝;基斯E. 道尼斯;彼得J. 林格蓝;安东尼K. 史坦普
分类号 H01L21/20(2006.01);H01L21/4763(2006.01);H01L21/8242(2006.01) 主分类号 H01L21/20(2006.01)
代理机构 代理人 蔡玉玲
主权项
地址 美国
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