发明名称 |
制造厚导线结构之双镶嵌制程 |
摘要 |
一种方法及半导体装置,在本方法中,至少有一部分介层被蚀刻于一堆叠结构中,且一边界被形成约至少一部分介层,该方法更包含当继续介层蚀刻到至少一蚀刻停止层,使用选择性蚀刻制造厚导线。 |
申请公布号 |
TW200809923 |
申请公布日期 |
2008.02.16 |
申请号 |
TW096101395 |
申请日期 |
2007.01.15 |
申请人 |
万国商业机器公司 |
发明人 |
道格拉斯D. 酷宝;基斯E. 道尼斯;彼得J. 林格蓝;安东尼K. 史坦普 |
分类号 |
H01L21/20(2006.01);H01L21/4763(2006.01);H01L21/8242(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/20(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
蔡玉玲 |
主权项 |
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地址 |
美国 |