发明名称 检测治具及其检测电容的方法
摘要 本发明公开一种可以检测出并联电容群中漏电流电容的检测治具,其包括有参考电压产生器、阻抗转换器、比较器及显示单元,其中参考电压产生器可用来输出第一电压,且阻抗转换器可用来将并联电容群的阻抗转换成第二电压。比较器分别耦接至参考电压产生器与阻抗转换器的输出,用来比较第一电压与第二电压的大小。另外,显示单元耦接于比较器的输出,其中通过加热并联电容群中的电容而改变第二电压,而比较器对应于第二电压的改变输出电压差,使得显示单元显示对应的电容是否有漏电流。
申请公布号 CN101122624A 申请公布日期 2008.02.13
申请号 CN200610111020.1 申请日期 2006.08.09
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 吕佩谚
分类号 G01R31/01(2006.01);G01R27/26(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01R31/02(2006.01) 主分类号 G01R31/01(2006.01)
代理机构 上海翼胜专利商标事务所 代理人 翟羽
主权项 1.一种检测治具,用来检测出并联电容群中的漏电流电容,其特征在于:该检测治具包括有一参考电压产生器、一阻抗转换器、一比较器及一显示单元,其中参考电压产生器是用来输出一第一电压;阻抗转换器是用来将并联电容群的阻抗转换成一第二电压;比较器是分别耦接于参考电压产生器与阻抗转换器的输出,用来比较第一电压与第二电压;以及显示单元是耦接于比较器的输出,可通过加热并联电容群中的其中一电容以改变第二电压,而比较器对应于第二电压的改变会输出一电压差,并利用显示单元来显示电容是否有漏电流。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号