发明名称 一种闪存存储器的检测方法
摘要 本发明公开了一种闪存存储器的检测方法,针对电子线路开路的不确定性和短路特性,重复检测闪存所有电子线路,以此来检测出闪存的地址线和数据线是否有故障,同时通过对闪存的每个单元进行清“0”和置“1”来判断该闪存芯片本身是否有故障,并根据检测结果的指示,得知闪存发生故障的原因。本发明提出的闪存检测方法,能够比较完整地对闪存芯片进行检测;并且,本发明能够可靠地检测出闪存因为地址线短路所引起的读写故障和闪存的地址线开路和数据线故障并能够明确指出故障原因,利于排除故障。通过本发明方法对生产的电子线路板上的闪存进行检测,可以保证出厂的线路板上的闪存是完好的,同时找出闪存故障的线路板的闪存故障原因,方便故障定位和排除。
申请公布号 CN100369159C 申请公布日期 2008.02.13
申请号 CN200410069098.2 申请日期 2004.07.20
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 唐新平;张永华;文海军
分类号 G11C29/00(2006.01) 主分类号 G11C29/00(2006.01)
代理机构 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人 颜涛;王蔚
主权项 1.一种闪存存储器的检测方法,其特征在于包括下列步骤:步骤一、对闪存芯片进行单元检测:1.1将闪存芯片的每个地址单元清“0”;1.2将闪存芯片的每个单元内容读出,判断是否为0,如果是则继续,否则输出出错信息,单元检测结束;1.3依次对闪存中的每一个块单元进行擦除操作,如果成功则继续,否则输出出错信息,单元检测结束;步骤二、对闪存的数据线进行开路检测:2.1设定某一特定地址空间的首地址;2.2从第一位开始依次将数据总线中的某一位置“0”,其他位置“1”,得到等于数据总线宽度的M个特殊数据;2.3将M个特殊数据依次写入以2.1中首地址开始的M个单元内;2.4依次从2.1中首地址开始的空间内读出写入的特殊数据;2.5将读出的数据与写入的数据进行比较,如果相等,则继续,否则输出“特定数据中数据位为‘0’的那根数据线开路故障”;2.6所有的数据线均检测完毕后,数据线开路检测结束;步骤三、对闪存的数据线进行短路检测:3.1设定另一特定地址空间的首地址;3.2从第一位开始依次将数据总线中的某一位置“1”,其他位置“0”,得到等于数据总线宽度的M个特殊数据;3.3将M个特殊数据依次写入以3.1中首地址开始的M个单元内;3.4依次从3.1中首地址开始的空间内读出写入的特殊数据;3.5将读出的数据与写入的数据进行比较,如果相等,则继续,否则输出“特定数据中数据位为‘1’的那根数据线短路故障”;3.6所有的数据线均检测完毕后,数据线短路检测结束;步骤四、使用与步骤二和步骤三相同的方法,对闪存的地址线进行开路和短路检测;步骤五、检测结束。
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