发明名称 | 半导体用研磨剂、该研磨剂的制造方法和研磨方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种半导体用研磨剂,它是含氧化铈研磨粒子、水和添加剂的半导体用研磨剂,其特征在于,上述添加剂选自水溶性有机高分子和阴离子性表面活性剂中的1种以上,25℃的上述研磨剂的pH为3.5-6,并且上述添加剂的总的浓度是研磨剂总重量的0.01-0.5%。该研磨剂同时具有分散稳定性、优异的刻痕性以及优异的研磨的平坦性。特别是在研磨硅基板上形成硅化氮膜3和硅氧化膜2而成的半导体基板时,该研磨剂可获得凹陷偏差少的优异的研磨平坦化特性,另外若使用该研磨剂时,可缩短研磨图形晶片的时间。 | ||
申请公布号 | CN100369211C | 申请公布日期 | 2008.02.13 |
申请号 | CN03817513.4 | 申请日期 | 2003.07.22 |
申请人 | 清美化学股份有限公司;旭硝子株式会社 | 发明人 | 金喜则;中泽伯人;石田千惠 |
分类号 | H01L21/304(2006.01) | 主分类号 | H01L21/304(2006.01) |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 胡烨 |
主权项 | 1.半导体用研磨剂,它是含氧化铈研磨粒子、水和添加剂的半导体用研磨剂,其特征在于,上述添加剂选自水溶性有机高分子和阴离子性表面活性剂中的1种或1种以上,25℃的上述研磨剂的pH为3.5-6,并且研磨剂中所含有的上述添加剂的总重量是研磨剂总重量的0.01%-0.5%。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |