| 主权项 |
1.一种光学模组之光学特性校准方法,包含下列步 骤: 以一光感测器侦测一标准物之复数第一光学特性; 透过一数位系统处理,将侦测所读取之该些第一光 学特性处理后转换为对应之复数个标准値S1, S2, S3 ...Sn,并将该些标准値储存于一记忆体中; 以该光感测器侦测一待测物之复数第二光学特性; 透过该数位系统的处理,将侦测所读取之该些第二 光学特性处理后转换为对应之复数个侦测値D1, D2, D3...Dn; 该些侦测値与该些标准値依序进行比对; 若侦测値D1落于对应之标准値S1之一容许误差范围 内时,直接进行侦测値D2与标准値S2的比对,依此方 式进行比对直到侦测値Dn与标准値Sn比对完成; 若侦测値D1超出对应之标准値S1之容许误差范围时 ,该数位系统将产生一调整讯号以对该待测物进行 调整校正; 接着该光感测器重新侦测调整校正后之该待测物 的一新的第二光学特性,并且该新的第二光学特性 于该数位系统中被转换为一新的侦测値D11; 该新的侦测値D11与对应之该标准値S1进行比对; 当该新的侦测値D11落于对应之该标准値S1之该容 许误差范围内时,始继续下一项次侦测値D2与标准 値S2的比对,依此方式进行比对直到侦测値Dn与标 准値Sn比对完成;以及 当完成所有的比对,利用一烧录系统将调整后之该 待测物的各项光学特性数値储存于该待测物中。 2.依据申请专利范围第1项所述光学模组之光学特 性校准方法,其中该待测物被调整校正之次数系为 小于一特定之调整次数。 3.依据申请专利范围第1项所述光学模组之光学特 性校准方法,其中该容许误差范围系指各该些标准 値与对应之各该些侦测値及对应之各该些新的侦 测値其中之一的误差値。 4.依据申请专利范围第1项所述光学模组之光学特 性校准方法,其中该光感测器所测得之该些标准値 系先被转换为复数个电能讯号,再于转换为对应之 该些标准値后而被储存于该记忆体中。 5.一种光学模组之光学特性校准方法,包含下列步 骤: 以一光感测器侦测一标准物之一第一光学特性; 透过一数位系统处理,将侦测所读取之该第一光学 特性处理后转换为一标准値并储存于一记忆体中; 以该光感测器侦测一待测物之一第二光学特性; 透过该数位系统的处理,将侦测所读取之该第二光 学特性处理后转换为一对应之侦测値; 该侦测値与该标准値进行比对; 若该侦测値落于该标准値之一容许误差范围内时, 利用一烧录系统将该侦测値储存于该待测物中; 若该侦测値超出该标率値之该容许误差范围时,该 数位系统将产生一调整讯号以对该待测物进行调 整校正; 接着该光感测器重新侦测调整校正后之该待测物 的一新的第二光学特性,并且该新的第二光学特性 于该数位系统中被转换为一新的侦测値; 该新的侦测値与该标准値进行比对,当该新的侦测 値落于该标准値之该容许误差范围内时,利用一烧 录系统将该新的侦测値储存于该待测物中。 6.一种光学模组之光学特性校准装置,系用以对一 待测物之光学特性侦测値调整至与一标准物的对 应光学特性标准値一致,其中该标准物之标准値预 先被储存于一记忆体中;该校准装置包含有: 一治具,系供放置该待测物; 一光感测器,系用以侦测该待测物之光学特性; 一与该光感测器电气连接的数位系统,用以将该光 感测器所测得的光学特性处理转换为对应之侦测 値,该侦测値并与储存在该记忆体中的标准物之对 应标准値进行比对,当该侦测値超出该标准物的对 应标准値之一容许误差范围时,该数位系统将产生 一调整讯号以对该待测物进行光学特性的调整校 正,以使该光感测器所测得之一新侦测値与该标准 物的对应标准値一致。 7.依据申请专利范围第6项所述光学模组之光学特 性校准装置,更包括有一烧录系统,用以将该侦测 値或该新侦测値烧录储存于该烧录系统中。 8.一种光学模组之检测系统,系利用一光感测器侦 测一标准物的一光学特性并予转换为对应之一电 能讯号,该电能讯号再透过一数位系统的处理转换 为一标准値,一待测物经过该光感测器的侦测,所 得之另一电能讯号经该数位系统处理并转换为一 侦测値,该标准値与该侦测値于该数位系统中进行 比对,在该侦测値超出该标准値之一容许误差范围 时,该数位系统产生一调整讯号以对该待测物进行 调整校正,据以使得该待测物之新的侦测値与该标 准物之对应标准値一致。 9.依据申请专利范围第8项所述光学模组之检测系 统,其中该容许误差范围系指标准値与对应之侦测 値的误差値。 图式简单说明: 第一图系本发明校准装置之简易示图。 第二图系本发明校准方法之前段步骤流程图。 第三图系本发明校准方法之后段步骤流程图。 |
