| 主权项 |
1.一种检验单元,包括: 导体元件,具有适合安装于设有检验电路之电路板 上之第一表面,以及适合与待检验装置相对之第二 表面,该导体元件系形成有复数个具有第一通用直 径之第一贯穿孔,该第一贯穿孔将该第一表面与该 第二表面连通; 第一接触式探针,包括:具有比第一直径小之第二 直径之第一管体、以及可缩回地从第一管体之一 端凸出之第一柱塞; 第二接触式探针,包括:具有比第二直径小之第三 直径之第二管体、以及可缩回地从第二管体之一 端凸出之第二柱塞;以及 保持件,形成有复数个具有共同形状之第二贯穿孔 ,并设置于该导体元件之至少该第二表面以将第一 贯穿孔和第二贯穿孔连通,使得该第一接触式探针 和该第二接触式探针保持于该导体元件,同时只有 第一柱塞和第二柱塞从第二贯穿孔之一端凸出。 2.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,该第一 接触式探针系用于传送非RF信号而第二接触式探 针系用于传送RF信号。 3.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,每个该 第二贯穿孔具有:具有小于第二直径且大于第三直 径之第四直径之第一部份,以及具有小于第三直径 且大于第一柱塞和第二柱塞直径之第五直径之第 二部份。 4.如申请专利范围第3项之检验单元,其中,该保持 件包括形成有第二贯穿孔之绝缘板件。 5.如申请专利范围第3项之检验单元,其中,该保持 件包括:具有共同形状之第三贯穿孔之导电板件、 以及绝缘间隔件,而每一个绝缘间隔件形成有该等 第二贯穿孔之其中一个第二贯穿孔,且可安装于该 等第三贯穿孔之其中一个贯穿孔。 6.如申请专利范围第3项之检验单元,其中,每一个 该第二贯穿孔之内径系阶梯式地改变以便具有至 少第四直径和第五直径。 7.如申请专利范围第3项之检验单元,其中,每一个 该第二贯穿孔之内径系连续地改变以便具有至少 第四直径和第五直径。 8.如申请专利范围第3项之检验单元,其中,该第二 管体较该第一管体长。 图式简单说明: 第1A图系依据本发明之第一实施例之检验单元之 截面图; 第1B图显示第1A图之检验单元之接触式探针之放大 截面图; 第1C图系第1A图之检验单元之绝缘平板之放大截面 图; 第2图系第1B图所示之其中一个接触式探针之截面 图; 第3A图系根据本发明之第二实施例之检验单元之 放大截面图; 第3B图系第3A图所示之检验单元中之绝缘间隔件之 放大截面图; 第4A图系习知之检验单元之示意图;以及 第4B图显示第4A图之检验单元中之接触式探针之放 大截面图。 |
