| 主权项 |
1.一种检验单元,包含: 导电构件,具有适合安装于设有检验电路之电路板 上之第一表面,以及适合与欲检验之装置相对之第 二表面,该导电构件系形成有具有第一直径之第一 贯穿孔,该第一贯穿孔系将该第一表面与该第二表 面连通; 接触式探针,包含:具有第二直径之管状本体,该第 二直径系比该第一直径小、以及柱塞,其系可缩回 地由该管状本体之一端凸出; 第一保持件,形成有第二贯穿孔,且至少与该导电 构件之第二表面相对,将该第一贯穿孔与该第二贯 穿孔连通,使得该接触式探针保持于该导电构件, 同时只有柱塞从该第二贯穿孔之一端凸出;以及 第二保持件,适合保持该管状本体之一端与该第一 贯穿孔同心。 2.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,该第二 保持件系为设置于该导电构件与该第一保持件间 之绝缘板,且具有可供该管状本体之一端通过之孔 洞。 3.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,该第二 保持件系为匹配该管状本体之绝缘环形件,且宽度 不大于该管状本体外表面与该第一贯穿孔内表面 间之间隙。 4.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,该第一 保持件包含具有第三贯穿孔之导电板件,以及形成 有第二贯穿孔且嵌合于第三贯穿孔内部之绝缘间 隔件。 5.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,该第一 保持件包含形成有该第二贯穿孔之绝缘板件。 6.如申请专利范围第1项之检验单元,其中,该接触 式探针系用于发射RF信号。 图式简单说明: 第1A图为根据本发明之第一实施例,显示在组装状 态之检验单元之剖面图; 第1B图为显示第1A图之检验单元在拆卸状态之放大 剖面图; 第1C图为第1A图之检验单元中之接触式探针之剖面 图; 第2图为显示第1A图之检验单元之修改例在拆卸状 态之放大剖面图; 第3图为用来说明第1A图之检验单元之回流损失特 性之曲线图; 第4图为根据本发明之第二实施例,显示在拆卸状 态之检验单元之放大剖面图; 第5图及第6A图为用来说明第4图之检验单元之回流 损失特性之曲线图; 第6B图为用来说明第4图之检验单元之通过特性之 曲线图; 第7图为根据本发明之第三实施例,显示在拆卸状 态之检验单元之放大剖面图; 第8A图为显示在组装状态之第一习知检验单元之 放大剖面图; 第8B图为显示在拆卸状态之第一习知检验单元之 放大剖面图; 第9A图为第二习知检验单元之剖面示意图;以及 第9B图为第二习知检验单元中之接触式探针之部 分剖面图。 |
