发明名称 | 半导体元件及其制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体元件的制造方法,此方法为,先提供一基底,基底上至少具有包含闸极结构的电晶体区域、包含第一电极的电容器区域以及包含第二电极的电阻器区域,其中电容器区域与电阻器区域皆包含隔离结构。然后,依序形成第一间隙壁与闸极两侧的源极/汲极区。接着,于基底上方依序形成介电层以及第一导体材料层。之后,图案化第一导体层,以形成电容器区域的第三电极以及电阻器区域的导体层。随后,形成第二间隙壁。继之,移除未被覆盖住之介电层。之后,进行自行对准金属矽化物制程,形成金属矽化物层,以覆盖元件表面。 | ||
申请公布号 | TW200807688 | 申请公布日期 | 2008.02.01 |
申请号 | TW095127073 | 申请日期 | 2006.07.25 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 高境鸿 |
分类号 | H01L27/06(2006.01);H01L21/00(2006.01) | 主分类号 | H01L27/06(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |