发明名称 用以决定应用于微影制程之光源品质的方法
摘要 本发明提供一种用以决定应用于微影制程之光源品质的方法。将一影像感测器阵列曝光于一光源之光。收集对应于一瞳孔图像之复数位置的位址及个别的强度,其系表示该光源之光在该影像感测器阵列上的强度。依据收集之该位址及强度,定义该瞳孔图像之内曲线及外曲线之至少一者。若该位址具有一预设的模式与该内曲线及该外曲线中至少一者相关,将该光源用于一微影制程。
申请公布号 TW200808033 申请公布日期 2008.02.01
申请号 TW095144201 申请日期 2006.11.29
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 陈南荣;彭瑞君;洪若信;杨安国
分类号 H04N1/403(2006.01);G02B26/02(2006.01);G03F7/20(2006.01) 主分类号 H04N1/403(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号