| 摘要 |
L'invention concerne un dispositif optique pour imager ou caractériser un échantillon de matériau (28) en microscopie ou en spectroscopie en réflexion dans le domaine spectral TeraHertz. Le dispositif optique selon l'invention comprend un dispositif formant, à la fois, support de l'échantillon de matériau et de focalisation d'un faisceau d'ondes émises par un émetteur constitué par une lentille plano-convexe (27) ayant au moins une face plane. Cette lentille est fabriquée dans un matériau transparent et d'indice de réfraction sensiblement constant sur tout le domaine spectral THz couvert par le dispositif optique. L'échantillon de matériau (28) est disposé sur la face plane de la lentille (27) et celle-ci est disposée dans l'espace de manière à ce que le faisceau d'ondes (26) incident sur sa face convexe, soit focalisé sensiblement sur son axe optique, au niveau d'une interface constituée par l'ensemble "échantillon de matériau (28) - face plane" de la lentille (27), sur laquelle les ondes THz (26) viennent se réfléchir. |
