发明名称 Tirf Mikroskop
摘要 Mikroskop zur TIRF-Mikroskopie mit einer Mehrfarben-Lichtquelle zur evaneszenten Beleuchtung einer Probe mit einem Beleuchtungsstrahl, mit einer Wellenlängenselektionseinrichtung zur variablen Auswahl einer Hauptwellenlänge des Beleuchtungsstrahls und mit einer Ablenkeinrichtung zur variablen Beeinflussung des Beleuchtungsstrahls, wobei die Ablenkeinrichtung zur Veränderung des Einfallswinkels des Beleuchtungsstrahlengangs zur Probe vorgesehen ist.
申请公布号 DE102006033306(A1) 申请公布日期 2008.01.31
申请号 DE200610033306 申请日期 2006.07.17
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 HECKER, ANDREAS
分类号 G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
地址