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Eine integrierte Schaltungsanordnung umfasst eine Testleitung (2) und einen Testsignalgenerator (1), der an die Testleitung (2) gekoppelt ist und ausgebildet ist, ein Testsignal (S) auf die Testleitung (2) zu geben. Des Weiteren ist eine Vergleichseinheit (3) mit einem Eingang zum Anlegen eines Taktsignals (T) vorgesehen, die an die Testleitung (2) gekoppelt ist und ausgebildet ist, eine Laufzeit (L) des Testsignals (S) über die Testleitung (2) zu detektieren und zu überprüfen, ob das Taktsignal (T) und die Laufzeit (L) in einem vorgegebenen Zusammenhang stehen.
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