发明名称 |
无线电通信装置用比吸收率测定装置 |
摘要 |
一种无线电通信装置用比吸收率测定装置,在自由空间对从由多个微小偶极天线(1)构成的作为基准天线的微小偶极阵列天线(1A)放射的电波的第1附近磁场分布进行测定,利用规定的模型,测定从微小偶极阵列天线(1A)放射的电波的SAR分布。接着,测定的SAR分布除以测定的第1附近磁场的二次方而计算出变换系数α的分布。进而,在自由空间对从测定对象的无线电通信装置(10)放射的电波的第2附近磁场分布进行测定,通过测定的第2附近磁场分布的二次方乘以计算出的变换系数α的分布而推算计算从测定对象的无线电通信装置放射的电波的SAR分布。这种SAR测定装置,可简单且高精度地测定便携无线电通信装置的SAR分布。 |
申请公布号 |
CN100365420C |
申请公布日期 |
2008.01.30 |
申请号 |
CN200410006826.5 |
申请日期 |
2004.02.24 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
尾崎晃弘;小川晃一;小柳芳雄;斋藤裕;梶原正一;浅山叔孝;山本温 |
分类号 |
G01R29/08(2006.01) |
主分类号 |
G01R29/08(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
1.一种无线电通信装置用比吸收率测定装置,其特征在于:包括在自由空间对从由多个微小天线构成的作为基准天线的阵列天线放射的电波的第1附近磁场分布进行测定的第1测定机构;以规定的测定方法,利用规定的模型,测定从所述阵列天线放射的电波的比吸收率分布即SAR分布的第2测定机构;通过将所述测定的比吸收率分布即SAR分布除以所述测定的第1附近磁场分布的二次方而计算出变换系数(α)的分布的第1计算机构;在自由空间对从测定对象的无线电通信装置放射的电波的第2附近磁场分布进行测定的第3测定机构;以及通过将所述测定的第2附近磁场分布的二次方乘以所述计算的变换系数(α)的分布,而推算计算从所述测定对象的无线电通信装置放射的电波的比吸收率分布即SAR分布的第2计算机构。 |
地址 |
日本大阪府 |