| 发明名称 | 用于具有深度选择性的拉曼光谱法的设备 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种用于具有深度选择性的拉曼光谱法的设备。公开了从漫散射样本的次表面区域中非破坏性地探测拉曼光谱特征的设备和方法。在一个或更多个样本表面进入区提供入射辐射，并从与所述进入区隔开的一个或更多个收集区收集光。在所收集的光中探测拉曼光谱，并根据进入区－收集区的间隔得出深度信息。 | ||
| 申请公布号 | CN101115987A | 申请公布日期 | 2008.01.30 |
| 申请号 | CN200580047040.0 | 申请日期 | 2005.11.25 |
| 申请人 | 科学技术设备委员会 | 发明人 | 帕维尔·马陶谢克;安东尼·维廉·帕克 |
| 分类号 | G01N21/65(2006.01);G01N21/49(2006.01);G01N21/47(2006.01);A61B5/00(2006.01) | 主分类号 | G01N21/65(2006.01) |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李辉 |
| 主权项 | 1.一种测量通过漫散射样本的次表面拉曼散射的方法，所述方法包括下列步骤：(a)在所述样本的表面上的进入区提供入射辐射；(b)从所述表面上的收集区收集在所述样本内散射的光，所述收集区与所述进入区间隔开；以及(c)在所收集的光中探测与所述入射辐射在光谱上相关的一个或更多个拉曼特征。 | ||
| 地址 | 英国牛津郡 | ||