发明名称 光纤设备的光学特性检测方法、检测装置及检测系统
摘要 本发明提供了一种光纤设备的光学特性检测方法,该方法包括:把光纤设备的入射侧光纤连接到检测单元上的步骤;及把端面被切割成斜面的所述光纤设备的发射侧光纤连接到透射光接收器上的步骤,并选择性地进行:利用所述透射光接收器接收透射光的步骤;以及通过所述入射侧光纤并利用所述反射光接收器接收反射光的步骤。根据该方法可以轻易并迅速地进行光纤设备的透射光接收动作与反射光接收动作之间的转换,而且无需进行针对该端面的终端处理,因而可以简化检测所需的工序,提高工作效率。另外,本发明还提供了光纤设备的光学特性检测装置及光学特性检测系统。
申请公布号 CN101113939A 申请公布日期 2008.01.30
申请号 CN200710136857.6 申请日期 2007.07.13
申请人 新科实业有限公司 发明人 后藤正宪;深井勉;大西雅裕
分类号 G01M11/02(2006.01);G02B6/25(2006.01);G02B6/24(2006.01) 主分类号 G01M11/02(2006.01)
代理机构 广州三环专利代理有限公司 代理人 郝传鑫
主权项 1.一种光纤设备的光学特性检测方法,其特征在于:包括把作为检测对象的光纤设备的入射侧光纤连接到具有检测光光源与反射光接收器的检测单元上的步骤;及把端面被切割成斜面的所述光纤设备的发射侧光纤连接到透射光接收器上的步骤,并选择性地进行:利用所述透射光接收器接收从所述检测单元通过其入射侧光纤入射到所述光纤设备中的检测光中透过该光纤设备及其发射侧光纤的透射光的步骤;以及通过所述入射侧光纤并利用所述反射光接收器接收从所述检测单元通过其入射侧光纤入射到所述光纤设备中的检测光中被该光纤设备反射的反射光的步骤。
地址 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心