发明名称 |
非接触型单面探测设备及测试开路或短路的装置和方法 |
摘要 |
此处公开的是非接触单面探测以及用于测试模式电极的开路和短路的装置和方法。通过馈送电源到每个模式电极的一端并且使用作为独立模块的包括激励电极和传感器电极的非接触型单面探测设备感测电气变化值,模式电极的开路和短路能够通过一个扫描处理被测试。由于使用非接触型单面探测设备测试模式电极的开路和短路,所以模式电极能够避免由于接触故障或加压接触而被损坏,并且对比接触型探测设备所述探测设备的使用周期能够增加。 |
申请公布号 |
CN101109782A |
申请公布日期 |
2008.01.23 |
申请号 |
CN200710130585.9 |
申请日期 |
2007.07.18 |
申请人 |
微探测株式会社 |
发明人 |
殷琸;金圣振;崔熙德;李东俊;朴钟印;赵宇徹 |
分类号 |
G01R31/08(2006.01);G01R31/02(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/08(2006.01) |
代理机构 |
北京润平知识产权代理有限公司 |
代理人 |
周建秋;王凤桐 |
主权项 |
1.一种非接触型单面探测设备,该设备包括:非接触探测电极,该非接触探测电极馈送电源到以非接触状态被测试的模式电极并且感测电气变化值;电源馈送部分,该电源馈送部分施加AC电源到所述非接触探测电极;以及传感器,该传感器测量所述非接触电极的电气变化值。 |
地址 |
韩国首尔 |