| 发明名称 | 光学测孔方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种光学测孔方法，包括如下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其发光；b.用与激光光源相间设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.对由光拾取装置拾取到的信号进行处理。通过使用该方法，可非接触、高效且精度较高地测孔。 | ||
| 申请公布号 | CN101109623A | 申请公布日期 | 2008.01.23 |
| 申请号 | CN200710142862.8 | 申请日期 | 2007.08.01 |
| 申请人 | 北京理工大学 | 发明人 | 徐春广;肖定国;朱文娟;冯忠伟;郝娟;周世圆 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01);G01B11/24(2006.01) | 主分类号 | G01B11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京华夏正合知识产权代理事务所 | 代理人 | 韩登营;李殿健 |
| 主权项 | 1.一种光学测孔方法，包括如下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其工作；b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.对由光拾取装置拾取到的信号进行处理。 | ||
| 地址 | 100081北京市海淀区中关村南大街5号 | ||