发明名称 RF测试开关
摘要 一种RF测试开关,系包括有一第一开关部件及第二开关部件属外罩、胶芯元件、端子组及绝缘底座,其中,该第一开关部件系包含一金属外罩与胶芯元件,为预塑成型结合成一体,且金属外罩下端周缘形成有若干固定爪片,该胶芯元件内形成一开口,该第二开关部件包含一端子组及绝缘底座,为预塑成型结合为一体,该端子组形成至少两个连接部,该连接部供连结至一RF(Radio Frequency)电路上,该绝缘底座底部周缘形成有若干凹槽,该凹槽供该金属外罩下端周缘之固定爪片弯折嵌入包覆,使金属外罩结合绝缘底座,并使端子组露出于胶芯元件之开口而供压接进行开关测试操作,藉以构成一具第一、第二开关部件模组预塑成型组合之RF测试开关结构。
申请公布号 TWM326214 申请公布日期 2008.01.21
申请号 TW096214149 申请日期 2007.08.24
申请人 曾昌万 发明人 曾昌万
分类号 H01H3/00(2006.01);G01R31/327(2006.01) 主分类号 H01H3/00(2006.01)
代理机构 代理人 洪志文 台北市中正区罗斯福路3段126号4楼之1
主权项 1.一种RF测试开关,系包含: 第一开关部件,系包括一金属外罩及一胶芯元件, 该金属外罩之下端周缘设有若固定爪片,该胶芯元 件,与该金属外罩间以预塑一体成型结合;及 第二开关部件,系包括一端子组及一绝缘底座,该 端子组系包括至少一第一金属片及至少一第二金 属片,该第一金属片与第二金属片间系以开关关系 连结,绝缘底座供端子组之第一金属片及第二金属 片容置结合,且该绝缘底座与端子组之第一金属片 及第二金属片间系以预塑一体成型方式组合,并使 该第一金属片一端及第二金属片一端露出于绝缘 底座底部,该绝缘底座之底部周缘由第一开关部件 之金属外罩之固定爪片弯折包覆结合,使第一开关 部件结合第二开关部件。 2.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中,该 第一开关部件之金属外罩顶端设有一容纳开口。 3.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中,该 第一开关部件之胶芯元件顶端设有一结合部。 4.如申请专利范围第3项所述之RF测试开关,其中,该 结合部内形成一开口。 5.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中,该 第二开关部件之端子组之第一金属片一端形成一 端子部。 6.如申请专利范围第5项所述之RF测试开关,其中,该 端子部表面至少设有一凸块。 7.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中,该 第二开关部件之端子组之第二金属片一端形成一 端子部。 8.如申请专利范围第7项所述之RF测试开关,其中,该 端子部表面至少设有一凸块。 9.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中,该 第二开关部件之端子组之第一金属片与第二金属 片间形成一单投开关连结结构。 10.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中, 该第二开关部件之缘绝底座顶端形成一开口。 11.如申请专利范围第1项所述之RF测试开关,其中, 该第二开关部件之缘绝底座底部周缘设有若干凹 槽。 图式简单说明: 第一图系习知RF测试开关之应用架构图; 第二图系本创作之RF测试开关之第一实施例之立 体外观结构图; 第三图为本创作之RF测试开关之第一开关部件立 体外观结构图; 第四图为本创作之RF测试开关之第二开关部件立 体外观结构图; 第五图为本创作之立体分解结构图; 第六图本创作之剖视图; 第七图为本创作之RF测试开关应用于手机之RF电路 板之应用例图; 第八图系本创作之RF测试开关之第二实施例图。
地址 台北县板桥市自强里16邻自强新村92巷10号