发明名称 光感测元件及其制法
摘要 一种光感测元件及其制法,系利用萤光物质吸收某特定波段之光且将其转换成易于光转换元件感测之波段之光,再以形成于可将光讯号转换成电讯号之光转换元件上之抗反射涂层减少折射散失且将经萤光物质转换后之光聚焦至该光转换元件而感测其强度。
申请公布号 TWI292952 申请公布日期 2008.01.21
申请号 TW095103007 申请日期 2006.01.26
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 林哲歆;王庆钧;李隆盛
分类号 H01L27/14(2006.01);G02B1/11(2006.01) 主分类号 H01L27/14(2006.01)
代理机构 代理人 陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项 1.一种光感测元件之制法,该制法系包括下列步骤: 于基板上制作出光转换元件; 于该光转换元件上形成抗反射涂层;以及 于该抗反射涂层上形成能吸收某特定波段之光而 放射出易于光转换元件感测之波段之光之萤光物 质。 2.如申请专利范围第1项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系将光讯号转为电讯号之元件。 3.如申请专利范围第2项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系为金属-半导体-金属。 4.如申请专利范围第3项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系具有复数个凹部以配合各不同波 段之光之入射深度。 5.如申请专利范围第4项之光感测元件之制法,其中 ,该凹部较深处系吸收和感测入射深度较深之光。 6.如申请专利范围第2项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系为正-本-负二极体(P-I-N)。 7.如申请专利范围第2项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系为正负接面二极体(P-N)。 8.如申请专利范围第2项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系为光导体(photo-conductor)。 9.如申请专利范围第2项之光感测元件之制法,其中 ,该光转换元件系为光电晶体(photo-transistor)。 10.如申请专利范围第2项之光感测元件之制法,其 中,该光转换元件系为萧基特能障感测器(Schottky barrier detector)。 11.如申请专利范围第1项之光感测元件之制法,其 中,于该光转换元件上形成一层抗反射涂层系利用 沉积方式沉积适当折射率之材质后,再将所沉积之 材质表面蚀刻成凸面。 12.如申请专利范围第11项之光感测元件之制法,其 中,该抗反射涂层系能够使自外界入射之光聚焦至 该光转换元件上。 13.如申请专利范围第1项之光感测元件之制法,其 中,该萤光物质所吸收之特定波段之光系紫外光。 14.如申请专利范围第1项之光感测元件之制法,其 中,该萤光物质所吸收之特定波段之光系红外光。 15.一种光感测元件,系包括: 基板; 光转换元件,设置于该基板上; 抗反射涂层,形成于该光转换元件上;以及 萤光物质,形成于该抗反射涂层上。 16.如申请专利范围第15项之光感测元件,其中,该光 转换元件系将光讯号转为电讯号之元件。 17.如申请专利范围第15项之光感测元件,其中,该抗 反射涂层之表面系为凸面。 18.如申请专利范围第17项之光感测元件,其中,该抗 反射涂层之表面系能够使自外界入射之光聚焦至 该光转换元件上。 19.如申请专利范围第15项之光感测元件,其中,该萤 光物质系能够吸收某特定波段之光而放射出其他 波段之光。 20.如申请专利范围第19项之光感测元件,其中,该特 定波段之光系紫外光。 21.如申请专利范围第19项之光感测元件,其中,该特 定波段之光系红外光。 22.如申请专利范围第19项之光感测元件,其中,该放 射出之其他波段之光系适合于光转换元件吸收且 感测之波段之光。 图式简单说明: 第1A图系说明于矽基板上制作光转换元件; 第1B图系说明于该光转换元件上形成抗反射涂层; 以及 第1C图系说明于本发明之光感测元件上形成萤光 物质。
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号