发明名称 Verfahren zur Erfassung von Unregelmäßigkeiten an einem Messobjekt
摘要 Beschrieben wird ein Verfahren zur Erfassung von Unregelmäßigkeiten an einem Messobjekt wie etwa Blister-, Tray- oder Kartonverpackungen oder in bzw. auf diesen Verpackungen platzierte Produkte, bei dem die Oberfläche des Messobjektes von wenigstens einem Lichtbündel aus wenigstens einer Lichtquelle unter einem vorgegebenen Einfallswinkel beleuchtet und die beleuchtete Oberfläche von einer Kamera unter einem vom Einfallswinkel verschiedenen Messwinkel auf einem lichtempfindlichen Sensor abgebildet wird und der Sensor von einer nachgeschalteten, programmgesteuerten Bildverarbeitungs- und Auswerteelektronik abgetastet wird.
申请公布号 DE102006023745(A1) 申请公布日期 2008.01.17
申请号 DE200610023745 申请日期 2006.05.18
申请人 SCANWARE ELECTRONIC GMBH 发明人 WIENZEK, TORSTEN;MAETZIG, HARALD;SCHNEIDER, DIRK
分类号 G01B11/00;B65B57/02;B65B57/10;G01B11/24;G01B11/25 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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