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Das Verfahren weist auf einen initialen Schritt zum Auswählen einer Speicherzelle innerhalb des Speicherarrays und eine Betriebsbedingung, unter der die zu testende Speicherzelle getestet werden soll. Die Speicherzelle wird unter der spezifizierten Betriebsbedingung getestet und eine gemessene Antwort darauf wird erhalten. Basierend auf der gemessenen Antwort wird ermittelt, ob die Speicherzelle einem vorgegebenen Kriterium genügt oder nicht genügt. Ein Genügen/Nicht-Genügen-Ergebnis wird einem Zähler kommuniziert, welcher On-Chip mit dem Speicherarray integriert ist, wobei der Zähler eingerichtet ist zum Akkumulieren einer Gesamtanzahl von Genügen-Ergebnissen oder Nicht-Genügen-Ergebnissen, die ihm zugeführt wurden. Das beschriebene Verfahren wird wiederholt für mindestens eine andere Speicherzelle, wobei die neue Speicherzelle unter der genannten Betriebsbedingung getestet wird. Nachfolgend wird ein Datenwert, der die akkumulierte Anzahl von Genügen-Ergebnissen oder Nicht-Genügen-Ergebnissen repräsentiert, von dem On-Chip-Zähler ausgegeben.
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