发明名称 |
测量正向多雷射光束之功率的方法及多光束光学扫描装置 |
摘要 |
本发明揭示一种测量由包含至少两个雷射二极体之一雷射二极体阵列产生的一正向多光束之雷射功率的方法,该方法包含一产生步骤,其包含产生该正向多光束;一分离步骤,其包含将该正向多光束之至少部分分离成个别光束,个别光束之数目等于该雷射二极体阵列内雷射二极体之数目,此配置使各个别光束包含源自一单一雷射二极体之光;以及一测量步骤,其包含测量该各个别光束之该雷射功率。可藉由一成像透镜或利用准直透镜之晕边按空间实行或按时间实行该分离。 |
申请公布号 |
TW200805344 |
申请公布日期 |
2008.01.16 |
申请号 |
TW095147483 |
申请日期 |
2006.12.18 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
弗洛里斯 玛莉亚 赫曼兹 克朗普福特;MARIA HERMANSZ;亚历山大 马可 凡 德 李 |
分类号 |
G11B7/12(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/12(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
荷兰 |