发明名称 干涉仪及应用该干涉仪之显微镜
摘要 一种干涉仪,包括一光源单元、一第一分光镜、一参考光路单元以及一收光单元。光源单元提供一雷射光束。一第一分光镜从该光源单元接受该雷射光束,并将该雷射光束分离为一第一光束以及一第二光束。参考光路单元包括一频率调制器,一光阻隔器以及一球面镜,该频率调制器的中心点位于该球面镜的曲率中心,其中,该第一光束从该第一分光镜被传递至该频率调制器,该频率调制器将该第一光束分离为一绕射光以及一零阶光,该绕射光射至该球面镜,并由该球面镜反射,沿相同路径反还该频率调制器,经过该频率调制器后成为一参考光束。收光单元从该参考光路单元接收该参考光束。
申请公布号 TW200804791 申请公布日期 2008.01.16
申请号 TW095125074 申请日期 2006.07.10
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 朱仁佑;王俊凯;汪天仁;卢宥任
分类号 G01N13/14(2006.01);G01B9/04(2006.01);G01B9/02(2006.01) 主分类号 G01N13/14(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号