发明名称 | 干涉仪及应用该干涉仪之显微镜 | ||
摘要 | 一种干涉仪,包括一光源单元、一第一分光镜、一参考光路单元以及一收光单元。光源单元提供一雷射光束。一第一分光镜从该光源单元接受该雷射光束,并将该雷射光束分离为一第一光束以及一第二光束。参考光路单元包括一频率调制器,一光阻隔器以及一球面镜,该频率调制器的中心点位于该球面镜的曲率中心,其中,该第一光束从该第一分光镜被传递至该频率调制器,该频率调制器将该第一光束分离为一绕射光以及一零阶光,该绕射光射至该球面镜,并由该球面镜反射,沿相同路径反还该频率调制器,经过该频率调制器后成为一参考光束。收光单元从该参考光路单元接收该参考光束。 | ||
申请公布号 | TW200804791 | 申请公布日期 | 2008.01.16 |
申请号 | TW095125074 | 申请日期 | 2006.07.10 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 朱仁佑;王俊凯;汪天仁;卢宥任 |
分类号 | G01N13/14(2006.01);G01B9/04(2006.01);G01B9/02(2006.01) | 主分类号 | G01N13/14(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |