发明名称 高电压双极互补金氧半导体-双扩散金氧半导体积体电路装置及形成其之模组式方法
摘要 本发明提供全低温制程,其用以在一不包括一磊晶层之基板中制造多种半导体装置。该等装置包括一非隔离横向双扩散金氧半导体、一非隔离延伸汲极或漂移MOS装置、一横向渠沟双扩散金氧半导体、一隔离横向双扩散金氧半导体、JFET与空乏模式装置以及P-N二极体箝位与整流器与接面端子。由于制程消除了对高温处理之需要且使用“植入式”掺杂分布,故其构成一模组式架构,该模组式架构允许对IC添加或省略装置而不必改变用以产生剩余装置之该等制程。
申请公布号 TW200805510 申请公布日期 2008.01.16
申请号 TW096119624 申请日期 2007.05.31
申请人 先进类比科技股份有限公司 发明人 理查K 威廉斯;唐诺 雷 迪士尼;俊威 陈;陈伟钿;柳馨植
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01);H01L29/808(2006.01);H01L29/861(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国