发明名称 |
高电压双极互补金氧半导体-双扩散金氧半导体积体电路装置及形成其之模组式方法 |
摘要 |
本发明提供全低温制程,其用以在一不包括一磊晶层之基板中制造多种半导体装置。该等装置包括一非隔离横向双扩散金氧半导体、一非隔离延伸汲极或漂移MOS装置、一横向渠沟双扩散金氧半导体、一隔离横向双扩散金氧半导体、JFET与空乏模式装置以及P-N二极体箝位与整流器与接面端子。由于制程消除了对高温处理之需要且使用“植入式”掺杂分布,故其构成一模组式架构,该模组式架构允许对IC添加或省略装置而不必改变用以产生剩余装置之该等制程。 |
申请公布号 |
TW200805510 |
申请公布日期 |
2008.01.16 |
申请号 |
TW096119624 |
申请日期 |
2007.05.31 |
申请人 |
先进类比科技股份有限公司 |
发明人 |
理查K 威廉斯;唐诺 雷 迪士尼;俊威 陈;陈伟钿;柳馨植 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01);H01L29/808(2006.01);H01L29/861(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
美国 |