发明名称 半导体雷射装置
摘要 〔课题〕本发明系针对作为形成在雷射晶片后端面之高反射率膜,在2种波长λ1、λ2的双方中都能够得到高反射率,并且可以得到具备反射率之波长依存特性小的半导体雷射装置。〔解决手段〕本发明系为利用2种波长λ1、λ2加以发光之半导体雷射装置,在雷射晶片的后端面,从雷射晶片侧开始依序形成由第1层至最终层之7层以上所构成的高反射率膜,高反射率膜系对于波长λ=(λ1+λ2)/2而言,至少包含1层光学膜厚为nλ/2(n为自然数)的层作为除了第1层及最终层以外之任意层,高反射率膜之任意层及除了最终层以外的层之光学膜厚为(2n+1)λ/4(n为包含0之正整数),高反射率膜之最终层的光学膜厚为nλ/4(n为自然数)。
申请公布号 TW200805842 申请公布日期 2008.01.16
申请号 TW096117559 申请日期 2007.05.17
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 国次恭宏;松冈裕益
分类号 H01S5/06(2006.01) 主分类号 H01S5/06(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本