发明名称 |
焊料凸块的制造方法 |
摘要 |
一种焊料凸块的制造方法,包括:提供一具有顶层金属的半导体衬底;在所述半导体衬底上形成钝化层;在所述钝化层上形成底部露出顶层金属的连接孔;在所述钝化层上及连接孔中形成第一金属层;在所述第一金属层上形成阻挡层;在所述阻挡层上旋涂光致抗蚀剂并形成与连接孔相对应的开口;在所述开口中形成第二金属层;去除所述光致抗蚀剂;刻蚀所述第一金属层至露出覆盖层;本发明方法工艺简单节省成本。 |
申请公布号 |
CN101106095A |
申请公布日期 |
2008.01.16 |
申请号 |
CN200610028781.0 |
申请日期 |
2006.07.10 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
杨勇胜;肖德元;邢溯 |
分类号 |
H01L21/60(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/60(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
逯长明 |
主权项 |
1.一种焊料凸块的制造方法,其特征在于包括:提供一具有顶层金属的半导体衬底;在所述半导体衬底上形成钝化层;在所述钝化层上形成底部露出顶层金属的连接孔;在所述钝化层上及连接孔中形成第一金属层;在所述第一金属层上形成阻挡层;在所述阻挡层上旋涂光致抗蚀剂并形成与连接孔相对应的开口;在所述开口中形成第二金属层;去除所述光致抗蚀剂;刻蚀所述阻挡层、第一金属层至露出覆盖层。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江路18号 |