发明名称 焊料凸块的制造方法
摘要 一种焊料凸块的制造方法,包括:提供一具有顶层金属的半导体衬底;在所述半导体衬底上形成钝化层;在所述钝化层上形成底部露出顶层金属的连接孔;在所述钝化层上及连接孔中形成第一金属层;在所述第一金属层上形成阻挡层;在所述阻挡层上旋涂光致抗蚀剂并形成与连接孔相对应的开口;在所述开口中形成第二金属层;去除所述光致抗蚀剂;刻蚀所述第一金属层至露出覆盖层;本发明方法工艺简单节省成本。
申请公布号 CN101106095A 申请公布日期 2008.01.16
申请号 CN200610028781.0 申请日期 2006.07.10
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 杨勇胜;肖德元;邢溯
分类号 H01L21/60(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L21/60(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 逯长明
主权项 1.一种焊料凸块的制造方法,其特征在于包括:提供一具有顶层金属的半导体衬底;在所述半导体衬底上形成钝化层;在所述钝化层上形成底部露出顶层金属的连接孔;在所述钝化层上及连接孔中形成第一金属层;在所述第一金属层上形成阻挡层;在所述阻挡层上旋涂光致抗蚀剂并形成与连接孔相对应的开口;在所述开口中形成第二金属层;去除所述光致抗蚀剂;刻蚀所述阻挡层、第一金属层至露出覆盖层。
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