发明名称 一种高性能PIV测试用示踪粒子的制备方法
摘要 本发明公开了一种以粉煤灰空心微珠为基材制备高性能PIV测试用示踪粒子的方法,该方法首先从粉煤灰中精选出空心微珠,然后对其表面进行金属化处理,在其表面包覆一金属层,使之具有合适的密度及高的光散射效率,最后对金属化处理后的粉煤灰空心微珠进行表面改性处理,在其表面包覆一有机物层,经干燥处理制得PIV测试用的示踪粒子。该方法具有工艺简单、稳定可靠、成本低等优点,采用该方法所制备的PIV测试用示踪粒子具有合适的密度、较好的流场跟随性和高的光散射效率,性能优异且稳定。
申请公布号 CN100362349C 申请公布日期 2008.01.16
申请号 CN200510083980.7 申请日期 2005.07.18
申请人 北京航空航天大学 发明人 沈志刚;蔡楚江;麻树林;邢玉山
分类号 G01P5/20(2006.01) 主分类号 G01P5/20(2006.01)
代理机构 北京永创新实专利事务所 代理人 李有浩
主权项 1.一种高性能PIV测试用示踪粒子的制备方法,其特征在于包括下列步骤:第一步:选取粉煤灰空心微珠首先通过高梯度磁选机对粉煤灰进行除铁,然后通过半导体机对粉煤灰进行去碳,再通过气流分级设备分级,获得球形率在95%以上,不同粒度段分布的粉煤灰空心微珠,粒度在0.5um~100um之间可选;然后将上述精选得到的粉煤灰空心微珠加入到除油溶液中进行除油,所用的除油液配方为碳酸钠15~20g/L、氢氧化钠15~20g/L和磷酸钠15~20g/L;除油温度80℃~95℃,除油时间15~45分钟;最后将上述经除油处理后的粉煤灰空心微珠用水清洗至中性,获得制备示踪粒子的粉煤灰空心微珠;第二步:金属化处理将经第一步处理后的粉煤灰空心微珠进行表面金属化处理,获得表面包覆有金属层的粉煤灰空心微珠,然后清洗其表面的镀液至中性;第三步:表面改性处理将经第二步处理后的包覆有金属层的粉煤灰空心微珠在有机物溶液中进行表面改性处理,获得包覆有金属层和有机物层的粉煤灰空心微珠,并对其进行清洗;第四步:干燥处理将经上述第三步处理后的包覆有金属层和有机物层的粉煤灰空心微珠在温度50℃~90℃的干燥箱中干燥1~3小时后取出,即制得PIV测试用的示踪粒子。
地址 100083北京市海淀区学院路37号
您可能感兴趣的专利